- 新品推薦
- 靜電系列
- 脈沖發(fā)生器
-
功能材料系列
-
紅外光纖激光測(cè)振儀
-
高溫介電溫譜測(cè)試儀
-
儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系...
-
熱釋電系數(shù)測(cè)試儀
-
高低溫冷熱臺(tái)
-
50點(diǎn)耐壓測(cè)試系統(tǒng)
-
閉孔溫度破膜溫度測(cè)試儀
-
鋰離子電池隔膜電弱點(diǎn)測(cè)試...
-
多通道介電/電阻測(cè)試模塊
-
壓電系數(shù)測(cè)試儀
-
探針臺(tái)
-
高壓薄膜極化裝置
-
功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
阻抗分析儀
-
電介質(zhì)充放電系統(tǒng)
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)...
-
高溫絕緣電阻測(cè)試儀
-
鐵電測(cè)試系統(tǒng)
-
鐵電分析儀
-
紅外光纖激光測(cè)振儀
- 功率放大器系列
- 功能材料試驗(yàn)設(shè)備
-
工程塑料絕緣材料系列
-
絕緣材料測(cè)試儀器
-
高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)...
-
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀
-
介質(zhì)損耗分析系統(tǒng)
-
傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
絕緣電阻劣化(離子遷移)...
-
變溫極化耐擊穿測(cè)試儀(高...
-
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)
-
耐壓絕緣測(cè)試儀
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
-
表面、體積電阻率測(cè)試儀(...
-
耐電弧試驗(yàn)儀
-
電壓擊穿試驗(yàn)儀
-
工頻介電常數(shù)測(cè)試儀
-
低壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)...
-
絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)
-
長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)
-
絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)
-
導(dǎo)電與防靜電體積電阻率測(cè)...
-
絕緣材料測(cè)試儀器
- 儲(chǔ)能科學(xué)與工程試驗(yàn)設(shè)備
- 附件及配件
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹:
華測(cè)儀器生產(chǎn)的HC-TSC2000其具有更強(qiáng)大測(cè)試功能,設(shè)備支持測(cè)試電壓10kV,采用冷熱臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量引用使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。同時(shí)測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、也方便擴(kuò)展介電譜等測(cè)量功能。
詳情介紹:
TSDC熱刺激電流測(cè)試儀
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1.除去電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響
2.除去高溫環(huán)境下測(cè)量導(dǎo)線阻抗影響及內(nèi)部屏蔽
3.優(yōu)化樣品溫度的測(cè)試方式及測(cè)量電極
4.支持多種硬件
5.優(yōu)化操作軟件
產(chǎn)品參數(shù)
1. 溫度范圍:-185~600°C
2. 控溫精度:±0.25°C
3. 升溫斜率:10°C/min(可設(shè)定)
4. 測(cè)試頻率:電壓:±10kV
5. 加熱方式:直流電極加熱
6. 冷卻方式:水冷
7. 輸入電壓:AC:220V
8. 樣品尺寸:φ<25mm,d<4mm
9. 電極材料:黃銅或銀
10. 夾具輔助材料:99氧化鋁陶瓷
11. 低溫制冷:液氮
12. 測(cè)試功能:TSDC
13. 數(shù)據(jù)傳輸:RS-232
14. 設(shè)備尺寸:180mmx210mmx50mm
產(chǎn)品用途
廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域,用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活 化能等相關(guān)的介電特性。TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。